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电源设计

发表时间:2019-09-17 14:39

功率(lv)器件(jian)测(ce)试


功(gong)率半(ban)导体器件是(shi)能量(liang)转换的核(he)心(xin)器件,不(bu)论是(shi)MOSFET还是(shi)IGBT,都承担着(zhe)电能调整的重(zhong)要指责。功率(lv)器(qi)(qi)件(jian)本身的(de)损(sun)耗(hao)是影响电(dian)(dian)源整(zheng)体(ti)效率(lv)的(de)重要因素,高损(sun)耗(hao)将导致器(qi)(qi)件(jian)发(fa)热并(bing)有可能影响电(dian)(dian)源寿(shou)命。示波(bo)(bo)器(qi)(qi)一般采用瞬时功率(lv)积分(fen)方法测(ce)量(liang)功率(lv)器(qi)(qi)件(jian)的(de)损(sun)耗(hao)波(bo)(bo)形。RIGOL示波(bo)(bo)器(qi)(qi)均支持功率(lv)测(ce)试,齐备的(de)高压差分(fen)和(he)电(dian)(dian)流(liu)探头可以满足(zu)各种测(ce)试需求。PC版UltraPowerAnalysis软件(jian)更(geng)可以导出测(ce)试数据,完成(cheng)多种参数的(de)在线和(he)离线测(ce)试,并(bing)生成(cheng)报告。




纹波(bo)分析

电(dian)源纹(wen)(wen)波(bo)(bo)(bo)是评价直流电(dian)源的(de)重要参数,纹(wen)(wen)波(bo)(bo)(bo)的(de)构成(cheng)由(you)工频纹(wen)(wen)波(bo)(bo)(bo)、开关纹(wen)(wen)波(bo)(bo)(bo)和高(gao)频杂讯组成(cheng)。准(zhun)确(que)测(ce)试(shi)纹(wen)(wen)波(bo)(bo)(bo)需要测(ce)试(shi)仪器本身的(de)纹(wen)(wen)波(bo)(bo)(bo)要尽可(ke)能小,测(ce)试(shi)系统对测(ce)试(shi)结果(guo)产生(sheng)最小的(de)影(ying)响。RIGOL示波(bo)(bo)(bo)器的(de)一(yi)个重要特点是底噪较(jiao)小,其中(zhong)的(de)DS2000A示波(bo)(bo)(bo)器更可(ke)以提(ti)供(gong)500uV/div的(de)业内领先小量程,非常适合测(ce)试(shi)电(dian)源纹(wen)(wen)波(bo)(bo)(bo)这(zhei)类小信(xin)号。RP2200探头提(ti)供(gong)1:1/10:1两种衰减(jian)比,可(ke)以直接用于纹(wen)(wen)波(bo)(bo)(bo)测(ce)试(shi)。UltraPowerAnalysis软件(jian)提(ti)供(gong)纹(wen)(wen)波(bo)(bo)(bo)分析功能模(mo)块(kuai)。


调至分析


为(wei)提高电(dian)(dian)(dian)源效率,开关电(dian)(dian)(dian)源中大(da)都(dou)采用的可以调节功(gong)率因数的FPC电(dian)(dian)(dian)路,门极驱动(dong)脉冲可调。在变频(pin)驱动系统中,双极(ji)型的PWM驱动脉冲也是需要仿真(zhen)、测试(shi)和验证的。RIGOL各种任意(yi)波(bo)形发生器可(ke)以产(chan)生各(ge)种脉宽调(diao)制信号(hao),双通(tong)道(dao)输出时,通(tong)道(dao)间完全隔(ge)离(li),特别适合各(ge)类(lei)驱(qu)动信号(hao)的(de)模拟产(chan)生。示波器的(de)测量趋势绘(hui)图功能(neng),可(ke)以分(fen)析调(diao)制信号(hao)的(de)变(bian)化规(gui)律。



生产与老化(hua)测(ce)试


电源产品需(xu)要完(wan)成(cheng)(cheng)大批(pi)量的快速参(can)数(shu)测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)和(he)(he)老化(hua)试(shi)(shi)(shi)验,这(zhei)些测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)必(bi)须同时测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)多路参(can)数(shu)的测(ce)(ce)(ce)量和(he)(he)记录功能(neng)。对于(yu)超出(chu)限制的测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)结果,系统需(xu)要报警提示。所有这(zhei)些需(xu)求对于(yu)RIGOL M300数(shu)据(ju)采集系统都可以轻松完(wan)成(cheng)(cheng)。6位半数(shu)字表的测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)精度(du)(du)、高达(da)250CH/s的测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)速度(du)(du)和(he)(he)最高320通(tong)道的系统配(pei)置(zhi)能(neng)力,使M300成(cheng)(cheng)为理想的生(sheng)产测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)和(he)(he)温湿度(du)(du)及(ji)老化(hua)测(ce)(ce)(ce)试(shi)(shi)(shi)的工具。大屏显示和(he)(he)PC软(ruan)件让(rang)设置(zhi)和(he)(he)使用M300变得轻而(er)易(yi)举。




EMI测(ce)试(shi)与诊断


作为(wei)产生(sheng)EMI问(wen)题的(de)重要原因(yin),电(dian)源(yuan)部分(fen)的(de)EMI特性常(chang)常(chang)是首(shou)先需要验证的(de)。随着功率(lv)器件开关频率(lv)的(de)升高,EMI问(wen)题也更加严重。电(dian)源(yuan)通(tong)过供电(dian)线对(dui)电(dian)网的(de)影(ying)响(xiang)也会随设备的(de)工(gong)况变得严重。RIGOL的(de)频谱分(fen)析仪(yi)具备EMI分(fen)析选件,配合使用近场(chang)探头(tou)和LISN可以(yi)完(wan)成电(dian)子(zi)产品的(de)辐射(she)和传导测试。近场(chang)探头(tou)可以(yi)定(ding)位(wei)EMI问(wen)题点(dian),帮助(zhu)工(gong)程师定(ding)位(wei)问(wen)题。在送(song)交EMC认证实验室前完(wan)成整改,节省大量测试费用。

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